ՀԵՂԻՆԱԿՆԵՐ 
Арутюнян В.М.
Барсегян Р.С
Барсегян Р.С
Исследование и разработка метода фотоемкостной спектроскопии для определения профиля распределения глубоких центров в полупроводниках
Исследование и разработка метода фотоемкостной спектроскопии для определения профиля распределения глубоких центров в полупроводниках
Отчет по научно-исследовательской работе по хоз. договору ПД-17, проводимой в ЕГУ для СКВ ИРФЭ АН Арм. ССР, 1985, гос.рег. N0185.051340, УДК 621.383.4, c. 30
